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歡迎來電:021-39530106

手機平面檢測干涉儀
手機攝像孔干涉儀
手機面板攝像頭小孔干涉儀

一、用途:

   NEPTUNE-II-30多工能激光干涉儀為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制,可以滿足條紋非常密集、超大像差(PV值非常大)狀況下的準確測量。此款產品分為透射、反射、臥式三種測量方式是國內高品質手機行業測量儀器。儀器采用進口的激光器,并可以選配氣浮減震平臺,在環境惡劣的生產現場亦可以保證穩定、可靠的測試。

上海思長約光學儀器有限公司 

電話:021-39530106   69582899 13818629801     傳真:021-69588101    郵箱: sales@shsopt.com
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